Утв. и введен в действие Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 14 июня 2023 г. N 393-ст
Национальный стандарт РФ ГОСТ Р 70788-2023
"ЗАГОТОВКИ ИЗ ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКИХ, ОПТИЧЕСКИ НЕЛИНЕЙНЫХ И АКУСТООПТИЧЕСКИХ КРИСТАЛЛОВ ДЛЯ ИЗДЕЛИЙ КВАНТОВОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ. СИСТЕМА ПАРАМЕТРОВ"
Preforms from electro-optical, optically nonlinear and acousto-optical crystals for quantum electronics products. Parameter system
ОКС 31.260
Дата введения - 1 марта 2024 года
Введен впервые
Предисловие
1 РАЗРАБОТАН Акционерным обществом "Российский научно-исследовательский институт "Электронстандарт" (АО "РНИИ "Электронстандарт")
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 303 "Электронная компонентная база, материалы и оборудование"
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 14 июня 2023 г. N 393-ст
4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона от 29 июня 2015 г. N 162-ФЗ "О стандартизации в Российской Федерации". Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.rst.gov.ru)
1 Область применения
Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые заготовки из электрооптических, оптически нелинейных и акустооптических кристаллов (далее - заготовки), предназначенные для использования в изделиях квантовой электроники, и устанавливает состав параметров и типовых характеристик, подлежащих включению в общие технические условия и технические условия при их разработке или пересмотре.
Стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний опытных образцов.
Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими субъектами научной и хозяйственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения, а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в разработке, производстве, эксплуатации заготовок в соответствии с действующим законодательством.
2 Термины и определения
В настоящем стандарте применены следующие термины с соответствующими определениями:
2.1 заготовка из электрооптических, оптически нелинейных и акустооптических кристаллов: Часть кристалла, подвергнутая оптико-механической обработке, по которой можно оценить качество материала для применения его по назначению, и используемая для изготовления оптического изделия.
2.2 оптическое изделие: Заготовка, оформленная конструктивно и технологически таким образом, что для ее дальнейшего использования по назначению не требуется дополнительной оптико-механической обработки.
2.3 коэффициент эллиптичности поляризации пучка лазерного излучения, прошедшего через изделие: Отношение интенсивностей пучка лазерного излучения, прошедшего через систему "поляризатор-изделие-анализатор" при скрещенном и параллельном положениях поляризаторов.
2.4 коэффициент эллиптичности поляризации пучка лазерного излучения, прошедшего через изделие в максимуме характеристики пропускания: Отношение интенсивностей пучка лазерного излучения, прошедшего через систему "поляризатор-изделие-анализатор" при скрещенном и параллельном положениях поляризаторов при приложении к изделию статического полуволнового напряжения.
2.5 разрешающая способность: Отношение углового разрешения, определяемого методом мер абсолютного контраста на заданной световой зоне изделия, к угловому разрешению коллиматора на той же световой зоне без изделия.
2.6 отношение сигнал/шум в лазерном излучении, прошедшем через изделие: Отношение интенсивности лазерного излучения, прошедшего через изделие без рассеяния, к интенсивности лазерного излучения, рассеянного под малыми углами.
3 Классификация
Заготовки подразделяют на классификационные группы в соответствии с таблицей 1.
Таблица 1
Наименование классификационной группы
|
Обозначение классификационной группы
|
Заготовки из электрооптических кристаллов
|
1
|
Заготовки из оптически нелинейных кристаллов
|
2
|
Заготовки из акустооптических кристаллов
|
3
|
4 Система параметров
4.1 Состав параметров заготовок и способы задания норм на них установлены в таблице 2. В технически обоснованных случаях по согласованию с заказчиком состав параметров заготовок, регламентированный настоящим стандартом, при составлении конкретных документов на заготовки допускается расширять или сокращать.
Таблица 2
Наименование параметра, единица измерения
|
Буквенное обозначение параметра
|
Способ задания нормы
|
Обозначение классификационной группы
|
1 Конструктивные параметры и характеристики
|
1.1 Габаритные размеры, мм
|
-
|
НР, Г
|
1 - 3
|
1.2 Угол разориентации поверхностей (нормалей к поверхностям) относительно заданных кристаллографических плоскостей (осей), мин
|
Δθ
|
Г, Н, НР
|
1 - 3
|
1.3 Шероховатость поверхности
|
Ra, Rz
|
Н, НР, ОП
|
1 - 3
|
1.4 Допускаемая сферичность плоской поверхности, число интерференционных полос
|
N
|
ОП
|
1 - 3
|
1.5 Местная ошибка допускаемой сферичности поверхности (предельное отклонение формы поверхности от сферы или плоскости), число интерференционных полос
|
ΔN
|
ОП
|
1 - 3
|
1.6 Предельная клиновидность, мин/с, или разнотолщинность, мм
|
θ
|
ОП
|
1 - 3
|
1.7 Угол отклонения нормали к поверхности от направления синхронизма, рад
|
Δi
|
ОП
|
2
|
1.8 Масса, г
|
m
|
НР
|
1 - 3
|
1.9 Отсутствие дефектов, определяемых внешним осмотром
|
-
|
ОП
|
1 - 3
|
2 Оптические, электрооптические параметры и параметры синхронизма
|
2.1 Коэффициент пропускания на длине (длинах, диапазоне длин) волн лазерного излучения, %
|
τпр
|
ОП
|
1 - 3
|
2.2 Коэффициент эллиптичности поляризации пучка лазерного излучения, прошедшего через изделие
|
Kэ
|
ОП
|
1 - 3
|
2.3 Коэффициент эллиптичности поляризации пучка лазерного излучения, прошедшего через изделие, в максимуме характеристики пропускания
|
Kэ.max
|
ОП
|
1
|
2.4 Статистическое полуволновое напряжение при нормальных климатических условиях <*>, В
|
|
ОП, НР
|
1
|
2.5 Отношение сигнал/шум в лазерном излучении, прошедшем через изделие
|
|
ОП
|
3
|
2.6 Разрешающая способность
|
|
ОП
|
1 - 3
|
2.7 Изменение двулучепреломления в направлении, перпендикулярном направлению распространения лазерного луча
|
ΔB1
|
ОП
|
2
|
2.8 Изменение двулучепреломления в направлении распространения лазерного луча
|
ΔB2
|
ОП
|
2
|
2.9 Температура синхронизма, °C
|
tc
|
Н, НР
|
2
|
2.10 Угловая полуширина синхронизма, рад
|
Δic
|
Н, НР, ОП
|
2
|
2.11 Температурная полуширина синхронизма, °C
|
Δtc
|
Н, НР, ОП
|
2
|
3 Параметры лазерной прочности
|
3.1 Лазерная прочность объема, Дж/см2 (Вт/см2)
|
Wev
(Wpv)
|
ОП
|
1 - 3
|
3.2 Максимально допустимая плотность мощности (энергии) лазерного излучения, Вт/см2 (Дж/см2)
|
WPmax
(WEmax)
|
ОП
|
1 - 3
|
<*> Нормальные климатические условия:
- температура воздуха от 15 °C до 35 °C;
- относительная влажность от 25% до 75%;
- атмосферное давление от 86 до 106 Па.
Примечание - Для указания способа задания нормы на параметры заготовок в настоящей таблице применены следующие обозначения:
- Н - номинальное значение параметра;
- НР - номинальное значение параметра с двухсторонним допускаемым отклонением (разбросом);
- ОП - односторонний предел значения параметра без указания номинального значения;
- Г - графическое изображение.
|
4.2 Состав важнейших параметров заготовок установлен в таблице 3.
Таблица 3
Наименование важнейшего параметра
|
Обозначение классификационной группы
|
1 Коэффициент пропускания на длине (длинах, диапазоне длин) волн лазерного излучения
|
1 - 3
|
2 Коэффициент эллиптичности поляризации пучка лазерного излучения, прошедшего через изделие
|
1 - 3
|
3 Коэффициент эллиптичности поляризации пучка лазерного излучения, прошедшего через изделие, в максимуме характеристики пропускания
|
1
|
4 Статистическое полуволновое напряжение при нормальных климатических условиях <*>, В
|
1
|
5 Отношение сигнал/шум в лазерном излучении, прошедшем через изделие
|
3
|
6 Изменение двулучепреломления в направлении, перпендикулярном направлению распространения лазерного луча
|
2
|
7 Изменение двулучепреломления в направлении распространения лазерного луча
|
2
|
8 Лазерная прочность объема
|
1 - 3
|
9 Максимально допустимая плотность мощности (энергии) лазерного излучения
|
1 - 3
|
<*> Нормальные климатические условия:
- температура воздуха от 15 °C до 35 °C;
- относительная влажность от 25% до 75%;
- атмосферное давление от 86 до 106 Па.
|
4.3 Состав типовых характеристик заготовок установлен в таблице 4. В технически обоснованных случаях по согласованию с заказчиком состав типовых характеристик заготовок, регламентированный настоящим стандартом, при составлении конкретных документов на заготовки допускается расширять или сокращать.
Таблица 4
Наименование типовой характеристики
|
Обозначение классификационной группы
|
Зависимость статистического полуволнового напряжения от температуры
|
1
|
Зависимость температуры синхронизма от длины волны лазерного (преобразованного) излучения
|
2
|
Зависимость коэффициента пропускания от длины волны излучения во всей области прозрачности
|
1 - 3
|
4.4 Параметры - критерии годности заготовок, применяемые в испытаниях различных видов, установлены в таблице 5.
Таблица 5
Комментарии (0)
Чтобы оставить комментарий вам необходимо авторизоваться